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Technique de détermination de l'épaisseur optimum de la base appliquée à une photopile n+ /p / p + au silicium sous éclairement monochromatique de courtes longueurs d'onde

Alternate title: Optimum base thickness determination technique as applied to n/p/p+ silicon solar cell under short wavelengths monochromatic illumination
Dede, Meimouna Mint SidiNdiaye, MorGueye, SegaBa, Mamadou LamineDiatta, Ibrahima; et al.  International Journal of Innovation and Applied Studies; Rabat Vol. 29, Iss. 3,  (Jun 2020): 576-586.