Abstract

Este estudio aborda la caracterización química y estructural de polvos derivados de la molienda de desechos de memorias RAM, enfocándose en la identificación de su composición química (elementos metálicos y no metálicos). Mediante el uso de técnicas avanzadas como espectroscopía de energía dispersiva de rayos X (EDS) y difracción de rayos X, se detectó una variedad de elementos y compuestos tanto metálicos (Cu, Si, Sn) como no metálicos (fibra de vidrio) esenciales en la manufactura de placas de circuitos electrónicos. Además, se evaluaron las concentraciones de elementos ambientalmente peligrosos (Pb, As, Cd) y bifenilos policlorados, encontrando que, en su mayoría, están dentro de los niveles autorizados por las regulaciones internacionales, lo que sugiere que estos desechos son relativamente seguros desde una perspectiva ecológica. No obstante, se observaron niveles de plomo superiores a los límites establecidos, lo que indica la necesidad de un manejo cuidadoso. Este trabajo contribuye al conocimiento sobre la composición de los desechos electrónicos y subraya la importancia de desarrollar procesos de reciclaje efectivos y seguros para mitigar los posibles riesgos ambientales.

Alternate abstract:

This study addresses the chemical and structural characterization of powders derived from the grinding of RAM memory waste, focusing on the identification of their chemical composition (metallic and non-metallic elements). Using advanced techniques such as X-ray energy dispersive spectroscopy (EDS) and X-ray diffraction, a variety of metallic (Cu, Si, Sn) and non-metallic (fiberglass) elements and compounds essential in the manufacture of electronic circuit boards were detected. Furthermore, the concentrations of environmentally hazardous elements (Pb, As, Cd) and polychlorinated biphenyls were evaluated, finding that, for the most part, they are within the levels permitted by international regulations, suggesting that these wastes are relatively safe from an ecological perspective. However, levels of lead exceeding the established limits were observed, indicating the need for careful management. This work contributes to the knowledge about the composition of electronic waste and underscores the importance of developing effective and safe recycling processes to mitigate potential environmental risks.

Details

Title
Caracterización química y estructural avanzada de desperdicios de memoria RAM: Un enfoque hacia la reciclabilidad y seguridad ambiental
Author
Gómez Acosta, Luis Gabriel  VIAFID ORCID Logo  ; Giovany Orozco Hernández  VIAFID ORCID Logo  ; Quintero Bernal, Daniel Fernando  VIAFID ORCID Logo 
Pages
84-103
Section
Artículos
Publication year
2025
Publication date
Jan 2025
Publisher
Fundación Universidad del Norte
ISSN
01223461
e-ISSN
21459371
Source type
Scholarly Journal
Language of publication
Spanish; Castilian
ProQuest document ID
3200790886
Copyright
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