An automated thin film system for controlling evaporation and resistivity measurements
Clark, William H.
The University of Texas at El Paso ProQuest Dissertations Publishing, 1976. EP01194.
مرحبًا بك في "بحثي"!
قد تكون لديك صلاحية الوصول إلى الميزات المجانية المتوفرة عبر My Research. يمكنك حفظ عمليات البحث وحفظ المستندات وإنشاء تنبيهات والمزيد. يُرجى تسجيل الدخول عبر مكتبتك أو مؤسستك للتحقق مما إذا كانت لديك صلاحية الوصول.
ترجم هذه المقالة إلى 20 لغة مختلفة!
إذا قمت بتسجيل الدخول عبر مكتبتك أو مؤسستك، فقد تكون لديك صلاحية الوصول إلى هذه المقالة بلغات متعددة.
احصل على حق الوصول إلى أكثر من 20 نمطًا من الاقتباسات المختلفة
تتضمن الأنماط MLA وAPA وChicago وغير ذلك الكثير. قد تتوفر هذه الميزة مجانًا إذا قمت بتسجيل الدخول عبر مكتبتك أو مؤسستك.
هل تبحث عن نسخة PDF من هذا المستند؟
هل تريد حفظ هذا المستند؟
قد يتوفر لك حق الوصول إلى خيارات تصدير مختلفة تتضمن Google Drive وMicrosoft OneDrive وأدوات إدارة الاقتباس مثل RefWorks وEasyBib. جرّب تسجيل الدخول من خلال مكتبتك أو مؤسستك للوصول إلى هذه الأدوات.
معاينة المستند
معلومات حقوق النشر
Database copyright ProQuest LLC; ProQuest does not claim copyright in the individual underlying works.
لماذا لا يمكنك الوصول إلى النص الكامل؟
هذه معاينة قصيرة للمستند. على الرغم من أن لديك إمكانية الوصول إلى بعض محتوى ProQuest، إلا أن هذا المستند المعين يبدو أنه ليس جزءًا من اشتراك ProQuest الحالي للمكتبة.
يرجى الاتصال بالمكتبة، أو بالمؤسسة التي توفر لك إمكانية الوصول إلى قواعد بيانات الأبحاث، للوصول إلى النص الكامل.
أو، يمكنك شراء نسخة من النص الكامل لهذا المستند مباشرة من ProQuest باستخدام الخيار أدناه: